Електронна мікроскопіявикористовує сигнали, що утворюються при взаємодії електронного променя зі зразком, для отримання інформації про структуру, морфологію та склад.
Електронні гармати виробляють електрони.
Два набори конденсаторів фокусують електронний промінь на зразок, де він фокусується в тонкий промінь.
Щоб перемістити електрони вниз по стовпчику, між вольфрамовою ниткою та анодом прикладається прискорювальна напруга (зазвичай від 100 кВ-1000 кВ).
Зразки для дослідження дуже тонкі, принаймні в 200 разів тонші за світловий мікроскоп. Виріжте ультратонкі зрізи 20-100 нм, які були розміщені на тримачі зразка.
Електронний промінь проходить через зразок, і електрони розсіюються залежно від товщини або показника заломлення різних частин зразка.
Щільні ділянки в зразку розсіюють більше електронів і тому виглядають темнішими на зображенні, оскільки менше електронів потрапляє на цю область екрана. І навпаки, прозорі ділянки яскравіші.
Електронний промінь, що виходить із зразка, досягає лінзи об'єктива, яка має велику силу і формує проміжне збільшене зображення.
Потім окуляр створює остаточне, ще більше збільшене зображення.
